DORC Interferometer

DORC ZX1-Mini Interferometer
Mede dankzij de steeds hogere transmissiesnelheden wordt de kwaliteit en betrouwbaarheid van de optische verbindingen en vooral van de connectoren van steeds groter belang. Naast de traditionele metingen zoals insteekverlies en reflectie van de connector zijn ook de eigenschappen Undercut en Apex-offset van belang. Dit kan men controleren met een Interferometer.

Doel van dit meetinstrument is zo nauwkeurig mogelijk de geometrie te meten van het connectoroppervlak. 
De belangrijkste parameters die gemeten worden:

• Rondheid van een PC of APC connector (radius of curvature)
• Afwijking van het hoogste punt van deze ronding (Apex-offset)
• Uitsteken of terugvallen van de glasvezel in de keramische connector (Undercut of Protrusion)

Met name Undercut en Apex-offset zijn zeer belangrijk om te meten omdat een te grote afwijking voor extreem hoge reflecties kan zorgen in het veld bij normale (of nog erger extreme) temperatuurcondities. Dit doordat het glas-glascontact dan plotseling los kan laten waardoor de reflectie honderd tot duizend keer groter wordt en aldus bitfouten kan introduceren in uw transmissie.

Interferometrie
Deze parameters worden gemeten met een lichtbron die gesplitst wordt in een bundel op een (beweegbare) vlakke spiegel en een bundel op het connectoroppervlak. Dit licht wordt vervolgens weer samengevoegd op een digitale camera waar vervolgens een interferentiepatroon ontstaat doordat het connectoroppervlak in hoogte varieert en lichtgolven hiervan soms een halve golflengteverschil hebben met golven van de vlakke spiegel waardoor een donkere ring ontstaat. Een daaropvolgende lichte ring duidt weer op een hoogteverschil van een heel aantal golflengten. Door de spiegel nu te variëren en de lichte en donkere ringen variatie te meten met de gepatenteerde Phase Measuring Software meet de DORC-interferrometer extreem nauwkeurig de geometrie (rondheid, beschadigingen etc.).

Rapportage
DORC is wereldleider op dit gebied en biedt apparatuur om enkelvoudige connectoren mee te meten of om enkel- en meervoudige connectoren (zoals ribbon MT-RJ) te meten. Ook compatible voor Huber + Suhner, Diamond en Reichle & De-Massari E2000 connectoren. Verder zijn zaken zoals communicatie met JDSU-apparatuur om automatisch reflectie en insteekverlies te meten, automatische krasanalyse en automatische focus aanwezig. Ook ontbreken natuurlijk niet de mogelijkheden om een uitvoerige rapportage en dbase bij te houden als bewijsvoering richting uw afnemers. 

Simac Electronics kan uw fabricageproces volledig inrichten;

• connector onderdelen
• polijst apparatuur
• benchtop en handheld inspectie microscopen
• reiniging, o.a. cassette reinigers
• verlies / reflectie meting
• oppervlakte inspectie / interferometrie
• consumables